パラレルイメージングMS/MSオプションとは

パラレルイメージングMS/MSオプション^＊をTOF-SIMSに搭載することで、最表面のタンデム質量分析を高速・高感度で実現し、スタティックな条件下でMS¹とMS²の同時高速測定を可能にします。

（＊US Patent　EP,JP Patent Pending）

MS¹とMS²のスペクトルとイメージを同時に取得

MS¹データを測定する際に得る二次イオンの一部をプリカーサーセレクターによって抽出・分岐することで、MS¹とMS² データをパラレルかつ高速で得ることができます。

MS1では、試料表面に存在するすべての成分が検出されるため、スペクトルは複雑になります。プリカーサーセレクターによって抽出・分岐して得られたMS²データは、シンプルなスペクトルパターンとなり、特定の分子構造のイメージングが可能です。

未知の有機材料の測定事例

未知の有機材料を測定した事例を紹介します。
MS¹スペクトルでは試料表面に存在する成分が全て検出されるため、スペクトルは複雑になります。一方、プリカーサーセレクターによって抽出・分岐して得られたMS²スペクトルではシンプルなスペクトルパターンとなり、より詳細な化学構造解析が可能となります。

ポリプロピレン上の未知の添加物測定事例

こちらはポリプロピレン上の未知添加物を測定した例です。表面にしか存在しない添加剤を高感度で分析でき、また、特定の化学構造の分布を可視化することが可能です。（クリックすると図が拡大します）

注：本文中では、MS1, MS2 はハードウェア（検出器）、MS¹, MS^{2（数字上付き）}をTOF-SIMSデータを示すものとして、それぞれ使い分けています。

関連装置 リンク

飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS